大樣品臺原子力顯微(wei)鏡為(wei)你的研究帶來無(wu)限(xian)自由(you)。該系統既可以(yi)(yi)用(yong)來研究小尺寸的、也可以(yi)(yi)大尺寸的、甚至巨大的樣品。NT-MDT的雙掃(sao)描模式(DualScan)使(shi)SPM掃(sao)描范圍可達(da)到200?m,掃(sao)描頭作為(wei)一個可移(yi)動(dong)的、獨立裝置(zhi),使(shi)得測(ce)量不(bu)受(shou)樣品尺寸限(xian)制(zhi)成(cheng)為(wei)可能。
Solver LS不僅是一種(zhong)用于科學研究領域(yu)的(de)*解決方案(an),同時也可(ke)用于工業檢測(ce)。使用這種(zhong)采用*技術的(de)工具,您可(ke)以(yi)在直徑250毫米(mi)(300mm可(ke)選(xuan))高度15mm的(de)范圍內研究和控(kong)制您的(de)樣(yang)品(pin)(基片)。集成在上的(de)自動定位平(ping)臺(tai)和光學觀察系(xi)統,可(ke)以(yi)讓您在樣(yang)品(pin)表面任意的(de)選(xuan)擇感興趣(qu)的(de)區(qu)域(yu),并(bing)且可(ke)以(yi)精(jing)確定位和自動掃描。正因為有著(zhu)如此豐富的(de)長處(chu),使得它(ta)的(de)應用領域(yu)幾(ji)乎是無止境的(de)。
裝有一個帶集成電容(rong)傳感器的(de)(de)可(ke)替換掃(sao)描(miao)(miao)器,可(ke)獲得100x100x12μm的(de)(de)掃(sao)描(miao)(miao)范圍。 100x100x10 的(de)(de)掃(sao)描(miao)(miao)范圍 集成的(de)(de)位置(zhi)傳感器可(ke)得到高的(de)(de)掃(sao)描(miao)(miao)線性度 倒置(zhi)式結(jie)構(gou)使用方便。
俄羅斯產高性價(jia)比(bi)掃描(miao)探針顯(xian)微鏡原(yuan)子力驅近系統的機(ji)械設(she)計可(ke)使得經(jing)過幾次驅近之(zhi)后仍然能(neng)獲得相同的檢測區(qu)域。掃描(miao)位移大約為500nm,這(zhe)個特點可(ke)以讓您在幾周內(nei)仍然能(neng)夠研究(jiu)相同的樣(yang)品(pin)區(qu)域。
俄羅斯(si)產(chan)全功能(neng)掃描(miao)探針原子(zi)力顯微鏡NTEGRA Prima為你(ni)的(de)研究(jiu)帶(dai)來(lai)無限自由(you)。該(gai)系(xi)統既可(ke)(ke)以用來(lai)研究(jiu)小尺寸(cun)(cun)的(de)、也可(ke)(ke)以大(da)尺寸(cun)(cun)的(de)、甚至巨大(da)的(de)樣品。NT-MDT的(de)雙(shuang)掃描(miao)模式(DualScan)使(shi)(shi)SPM掃描(miao)范圍可(ke)(ke)達(da)到200?m,掃描(miao)頭(tou)作為一個可(ke)(ke)移動的(de)、獨立(li)裝置(zhi),使(shi)(shi)得測量(liang)不受樣品尺寸(cun)(cun)限制成為可(ke)(ke)能(neng)