品牌 | 其他品牌 | 儀器種類 | 原子力顯微鏡 |
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價格區間 | 面議 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 電子 |
俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力 技術指標
樣品尺寸 | 40x40x10mm |
掃描器 | 3x3x1um ( ± 10%); 10x10x2um( ± 10%); 50x50x3 um ( ± 10%) |
zui小掃描步長 | 0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm |
掃描類型 | 樣品掃描式 |
SPM頭部 | AFM STM: 30pA - 50nA, 4 p時的ARMS 噪音(yin) (標準的前置放大器(qi)), 10pA - 5nA, 1.5 p時的ARMS噪音 (低電流前(qian)置放大器) 剪切力 |
光學觀察系統 | 數值孔徑 0.1 放(fang)大(da)倍數58x to 578x 水平視野 5,1~ 0,51mm |
控制系統 | SPM 控制箱 |
振動隔離系統 | 集成有被動隔離系統 如果需要也可用主動隔離系統(tong) |
俄羅斯產高性價比掃描探針顯微鏡原子力產品優勢
項目 | Solver P47 優(you)點 |
操作模式 | 1.合理的操作模式(shi): a. 擴(kuo)展電阻成像:這(zhe)個模(mo)式(shi)在(zai)表征半導體的(de)(de)(de)應用中非常有用,因為在(zai)該模(mo)式(shi)下,我們可以利(li)用W2C 或TiO涂層的(de)(de)(de)硅懸(xuan)臂來測(ce)得樣品上某一點的(de)(de)(de)導電率,然后(hou)和該點的(de)(de)(de)表明形(xing)貌進(jin)行比較。 b. 粘附(fu)力模式:在掃描過程(cheng)中(zhong),可以同時得到(dao)力-距(ju)離曲線和(he)力的值(zhi)。 c. 剪(jian)切(qie)力模式:可(ke)以用來實現SNOW系統。 d. SKM對半導體(ti)表面成分分析十分有用。 e. RM和(he)電(dian)壓刻蝕:利用這(zhe)兩個模式(shi)可(ke)以(yi)在(zai)納米尺度實現機(ji)械和(he)電(dian)壓表(biao)面(mian)修飾。 2.集成測量頭 在一次掃描(miao)過程中,可以同(tong)時得(de)到4種不(bu)同(tong)的(de)信息。 |
掃描器 | NT-MDT提供一套用于校正的(de)(de)標準光柵(6片),用其(qi)進行掃描器的(de)(de)校正和針尖質量的(de)(de)控制(zhi)。。 |
樣品大小 | 大樣(yang)品也可以進行測量。 |
光學觀測系統 | 多樣的光學觀測(ce)系統(tong)配置可以*客戶的需求。 |
針尖與樣品的驅近 | 1. 驅近系統的機械設計可(ke)使(shi)得經(jing)過(guo)幾(ji)次驅近之(zhi)后仍(reng)然能(neng)獲得相同(tong)(tong)的檢測區域。掃描位(wei)移(yi)大約為500nm,這(zhe)個特點可(ke)以讓您在幾(ji)周(zhou)內(nei)仍(reng)然能(neng)夠研究相同(tong)(tong)的樣品區域。 2. 在完(wan)成驅近之后,可以對所(suo)要檢測的區域進行自動掃描,因此實(shi)驗人員只(zhi)需很短的時間便可以在SPM上(shang)獲(huo)得(de)檢測結(jie)果。 3. 允許手動(dong)驅近(jin)。 |
電子學 | 每(mei)個(ge)軸(zhou)(X,Y和Z)通過2個(ge)16位DAC來(lai)實(shi)現(xian)(xian)22位的(de)掃(sao)描精(jing)度,再(zai)加上極(ji)低的(de)系統噪音,所(suo)以Solver使用50mm的(de)掃(sao)描器(qi)也能實(shi)現(xian)(xian)原子級分辨率。 |
計算機 | 我們(men)的(de)顯微鏡可(ke)以在任(ren)何兼容(rong)計算(suan)機(ji)機(ji)上進(jin)行操作。如(ru)果您(nin)不(bu)想(xiang)購買額(e)外的(de)計算(suan)機(ji),那么您(nin)還可(ke)以將這(zhe)臺用于SPM的(de)計算(suan)機(ji)用于其他(ta)用途。 |
軟件 | 多樣的圖(tu)像處理(li)方法; 圖像處(chu)理軟件可以(yi)在(zai)網站免費下載; 可(ke)以處(chu)理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠(chang)家的數據文件樣本; 可(ke)以根據用戶需要來定制軟件。 |
隔震系統 | 在通常的(de)實(shi)驗室(shi)中,不需要增加額外的(de)隔震系統(在通常的(de)實(shi)驗室(shi)環境下就可以得到原子級圖(tu)像)。 |
其他優點 | 鈦合(he)金(jin)結構和*的SPM測量(liang)系統(tong)設計提供了zui低的熱漂移,讓您可(ke)以打開(kai)系統(tong)之(zhi)后馬(ma)上就可(ke)以開(kai)始測量(liang)了。 在這方面(mian),NT-MDT盡全力滿足客戶的期望(wang)。 |