大樣品臺原子力顯微鏡NTEGRA Prima的(de)(de)標準(zhun)配(pei)(pei)置(zhi)(zhi)包括在(zai)(zai)大氣環境(jing)甚至(zhi)液體(ti)環境(jing)中得(de)到原(yuan)子分辨圖像(xiang)的(de)(de)基本配(pei)(pei)置(zhi)(zhi)。NTEGRA Prima不僅提供(gong)了所有傳統技術(shu)，例如(ru)形貌(mao)、相位、磁力測(ce)量，它(ta)還包括許多(duo)NT-MDT*的(de)(de)技術(shu)，例如(ru)，NT-MDT掃描電容顯微鏡(jing)，它(ta)以*的(de)(de)精度(du)(du)（1aF）對樣品表(biao)面(mian)(mian)電荷載流子濃(nong)度(du)(du)的(de)(de)變化(hua)進行成(cheng)像(xiang)，創造了電容測(ce)量的(de)(de)標準(zhun)。NT-MDT的(de)(de)另(ling)一項專有技術(shu)原(yuan)子力聲學顯微鏡(jing)（AFAM），是對彈性進行高級研究的(de)(de)工具，它(ta)只需附(fu)加一個簡單易安裝的(de)(de)附(fu)件。AFAM利(li)用(yong)局域彈性，可(ke)以對疇和結(jie)構進行直接的(de)(de)、非破(po)壞性的(de)(de)成(cheng)像(xiang)，還可(ke)以對楊氏模量和其(qi)它(ta)如(ru)粘彈力、摩(mo)擦力在(zai)(zai)內(nei)的(de)(de)表(biao)面(mian)(mian)參數進行直接、定量地(di)測(ce)量。

在原(yuan)子尺度工作時，定位(wei)精度非常的(de)(de)關鍵。為了確保(bao)精度，所有NTEGRA 系列產品(pin)(pin)都特別的(de)(de)設計了內(nei)置、閉環的(de)(de)電容傳感器。即使當掃描區域小到50×50nm，因其超低的(de)(de)噪音(yin)水(shui)平（典型(xing)值(zhi)小于0.1nm）仍(reng)然(ran)能在使用內(nei)置傳感器的(de)(de)情況(kuang)下對樣品(pin)(pin)表面(mian)進行成像和修(xiu)飾。可(ke)靠的(de)(de)掃描反饋確保(bao)可(ke)高精度的(de)(de)定量測量針尖和樣品(pin)(pin)表面(mian)間的(de)(de)相互(hu)作用力。

對(dui)于NTEGRA而(er)言，NTEGRA Prima 僅僅只(zhi)是一個基礎(chu)、核心，它所創建的(de)(de)(de)納米實驗室設計(ji)了*開放的(de)(de)(de)硬件、軟件和信號集(ji)成(cheng)(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)結構，為與其它儀(yi)器集(ji)成(cheng)(cheng)(cheng)提供(gong)了接口和平臺。它可以和高級光譜儀(yi)、超薄切片(pian)機、大規模篩(shai)選(xuan)（high-throughput screening）以及(ji)加熱附(fu)件等結合，形成(cheng)(cheng)(cheng)新一代的(de)(de)(de)集(ji)成(cheng)(cheng)(cheng)分析儀(yi)器。無論(lun)你(ni)需(xu)要的(de)(de)(de)是簡單的(de)(de)(de)還是更加的(de)(de)(de)完善和復雜的(de)(de)(de)SPM，NTEGRA Prima都能提供(gong)良好(hao)的(de)(de)(de)平臺，保證你(ni)成(cheng)(cheng)(cheng)功的(de)(de)(de)成(cheng)(cheng)(cheng)像和測量。

大樣品臺原子力顯微鏡特色介紹：

裝有一個帶(dai)集成電容傳感(gan)器(qi)的(de)(de)(de)可(ke)(ke)更換掃描(miao)器(qi)，可(ke)(ke)獲(huo)得的(de)(de)(de)掃描(miao)范(fan)圍：100x100x12 µm，雙掃描(miao)模式（DualScan）是(shi)NT-MDT*的(de)(de)(de)技術，它(ta)采(cai)用(yong)一個可(ke)(ke)更換的(de)(de)(de)底(di)部(bu)(bu)掃描(miao)器(qi)（100x100x12µm）和(he)一個頂(ding)部(bu)(bu)掃描(miao)器(qi)（100x100x10μm），使(shi)總的(de)(de)(de)掃描(miao)范(fan)圍達到：200x200x22μm；XY非線性(xing)：校正后，峰(feng)(feng)峰(feng)(feng)值0.05%，在整個掃描(miao)范(fan)圍內，X-Y平面(mian)的(de)(de)(de)定位精度保持(chi)在10-20納米內；NTEGRA的(de)(de)(de)控制器(qi)和(he)機械(xie)部(bu)(bu)件(jian)可(ke)(ke)以(yi)在高達5 MHz的(de)(de)(de)高頻(pin)下(xia)工作，因此(ci)儀(yi)器(qi)可(ke)(ke)以(yi)使(shi)用(yong)高共振頻(pin)率(lv)的(de)(de)(de)懸臂(bei)，從(cong)而(er)得到更加*的(de)(de)(de)圖像；同樣(yang)這(zhe)使(shi)得原(yuan)子(zi)力聲學顯微鏡（AFAM）的(de)(de)(de)應用(yong)成為(wei)可(ke)(ke)能。該系統可(ke)(ke)以(yi)用(yong)于(yu)研究(jiu)高電阻材料，例如(ru)半(ban)導(dao)體上的(de)(de)(de)薄膜絕緣層、DLC和(he)壓電薄膜、導(dao)電聚合物等(deng)。

低熱漂移和熱穩定性（特殊材料：鈦）

友好的(de)操作軟(ruan)件和強大的(de)腳本語言(yan)控制——NT-MDT*

光學(xue)垂(chui)直方向分(fen)辨可(ke)(ke)達0.4um （使用(yong)高(gao)數值孔徑(jing)的(de)頭(tou)部）, 可(ke)(ke)倒置觀察樣品(pin)——NT-MDT*

整(zheng)體(ti)設(she)計的液(ye)體(ti)池(chi)，可選配加熱裝置和(he)超小液(ye)體(ti)池(chi)（200微升）

納米刻蝕操作軟件

整體設計的防磁、防電、防聲屏蔽罩

低真空操作環境可選

內置濕(shi)度、溫度傳感器，LCD液(ye)晶顯示(shi)

通氣孔設(she)計可提供氣體(ti)控制(zhi)

對樣品尺寸無限制

3．應用介紹

生物學和生物技術
蛋白質、 DNA、病毒、細菌、組織等
材料科學
表面形貌形態、壓電性質、粘滯力分析、摩擦特性分析等
磁材料
磁疇結構成像、觀察因外部磁場引起的磁性的反轉、不同溫度下的磁結構變化等
半導體和電學性質測量
硅片等材料的表面形貌、表面電勢和電容測量、表面電荷分布圖、摻雜濃度分析、失效分析（局域導電性和絕緣層漏電流）
聚合物和有機薄膜
球狀或柱狀晶體、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒、LB 膜、有機薄膜等
數據存儲
CD, DVD 盤
納米材料
納米粉體、納米復合材料、納米多孔材料、
納米結構材料
富勒烯、碳納(na)米(mi)管、納(na)米(mi)絲、納(na)米(mi)膠囊

納米電子學

量子點、納米線、量子結構
納米機械學
AFM 納米刻蝕：力（直流電和交流電）、電流（局部陽極氧化）、STM 納米刻蝕
納米操縱
接觸力

1.      NTEGRA-Prima

NT-MDT*的雙掃描模式（DualScan）使總的掃描范圍達到：200x200x22μm，對樣品尺寸幾(ji)乎無限制

這套系統可(ke)以用于研究高電(dian)阻的材(cai)料(liao)，例(li)如在半(ban)導體(ti)基體(ti)上的絕(jue)緣(yuan)薄膜，DLC和壓電(dian)薄膜，導電(dian)聚合(he)物等

This system can be used in research of high-resistance materials such as thin dielectric layers on semiconductors, DLC and piezo-films, conductive polymers etc.

2.      NTEGRA-Aura

NTEGRA Aura allows measurements in low vacuum environment,

Additional possibilities are provided by a temperature table with sample heating up to 300 oC degree Celsius and the accuracy of temperature maintenance 0.05 oC.
Measurements in a controlled gas atmosphere are possible as well.

3.      NTEGRA-Vita

可(ke)選用不同(tong)的(de)(de)液體槽(cao)：密封(feng)的(de)(de)化學穩定(ding)的(de)(de)液體槽(cao)，可(ke)以進行升溫控(kong)制；用于在培養皿中進行操作的(de)(de)封(feng)閉式液體槽(cao)；可(ke)更(geng)換(huan)的(de)(de)加熱器。

Different liquid cells are available: hermetic chemically stable liquid flow cell with a possibility of the temperature control at elevated temperatures; closed liquid flow temperature controlled cell for operating with Petri dishes; replaceable heater

4.      NTEGRA-Maximus

NTEGRA Maximus 基座是一(yi)個帶有(you)傳動(dong)平臺的可更換(huan)的*部件。樣品(pin)在50mm內可在XY方(fang)向(xiang)上(shang)自由移動(dong)，且可以進行(xing)0-360度(du)旋轉(zhuan)。

NTEGRA Maximus basement is a changeable center unit with a motorized stage. Sample movement is possible within 50mm by X,Y and within 0-360 degrees under rotation

許多小樣品也(ye)可以在 NTEGRA Maximus上(shang)進(jin)行自動測量(liang)，且提供高(gao)質量(liang)的成(cheng)像效果。

Automated measurements of many small samples are also possible with NTEGRA Maximus enabling high throughput screening.

5.      NTEGRA-Solaris

集成到*基座(zuo)上(shang)的(de)倒置(zhi)式顯(xian)微鏡(jing)使系(xi)統具有高的(de)剛性，保證了系(xi)統的(de)穩(wen)定性，從而不僅(jin)可以獲得高質(zhi)量的(de)成像(xiang)效果，且(qie)可進行(xing)長(chang)時(shi)間(jian)的(de)研(yan)究。

The integrating of the inverted microscope objective into the central base because of high mechanical rigidity provides stability of the system making quality images and long-term experiments possible

6.      NTEGRA-Spectra

通用(yong)的(de)(de)PNL平臺為將掃(sao)描共聚焦(jiao)顯微鏡、常規的(de)(de)AFM和(he)分光(guang)鏡聯用(yong)提供(gong)了可能性(xing)，從而可以探測拉曼散射光(guang)譜，進而可以得到很多(duo)與樣品化學(xue)組成有(you)關的(de)(de)復雜(za)信息。

The universal PNL platform provides the possibility to integrate scanning confocal scheme in combination with regular AFM and spectrometer to detect Raman scattering spectrum. This spectra may then be interpreted into complex information concerning chemical composition of the object.

7.      NTEGRA-Therma

的(de)(de)熱學頭部可提供非(fei)常低的(de)(de)熱漂(piao)移（小于10 nm/°C），保證了(le)針尖-樣品(pin)系統的(de)(de)穩(wen)定(ding)性(xing)。這樣可以對樣品(pin)表(biao)面選定(ding)的(de)(de)點進行長時間的(de)(de)研究。

Special Thermo head provides extremely low thermal drift （less than 10 nm/癈） ensuring high stability of the tip-sample system. This allows long-term measurements to be done in pre-defined point on the specimen surface.

8.      NTEGRA-Tomo

超薄切片機可以制備用于原子力顯微鏡研究的納米片層和新鮮表面。因此，可以研究表面的物理性質和重構后的3維圖像
經(jing)過NTEGRA Tomo處(chu)理后的(de)片狀(zhuang)樣(yang)品可以用于透射電(dian)鏡分析。

Ultramicrotome makes nanoslices of a sample and a freshly cut surface is then measured by AFM. Thus, many physical properties of a surface are studied and 3D-volume imaging is available after the reconstruction.
After the NTEGRA Tomo operation sample slices stay available for TEM analysis