俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡NTEGRA Prima的(de)(de)(de)標(biao)準配(pei)置包括在大氣環境甚至液體環境中(zhong)得到原子分辨圖像的(de)(de)(de)基本(ben)配(pei)置。NTEGRA Prima不僅提供了所有(you)傳統技術(shu)，例(li)如形(xing)貌、相(xiang)位(wei)、磁力測量，它還包括許多NT-MDT*的(de)(de)(de)技術(shu)，例(li)如，NT-MDT掃描電容顯微鏡(jing)，它以*的(de)(de)(de)精(jing)度(du)（1aF）對樣品表面電荷載(zai)流子濃度(du)的(de)(de)(de)變化進行成(cheng)像，創造了電容測量的(de)(de)(de)標(biao)準。NT-MDT的(de)(de)(de)另一項專有(you)技術(shu)原子力聲學顯微鏡(jing)（AFAM），是對彈性進行高級研究(jiu)的(de)(de)(de)工具，它只需附加一個簡單(dan)易安裝的(de)(de)(de)附件。AFAM利(li)用局域彈性，可以對疇和(he)結構進行直接的(de)(de)(de)、非破壞性的(de)(de)(de)成(cheng)像，還可以對楊氏模量和(he)其它如粘彈力、摩擦力在內的(de)(de)(de)表面參數進行直接、定量地測量。

在(zai)原(yuan)子尺(chi)度(du)工作時，定(ding)位精(jing)(jing)度(du)非常的(de)(de)關鍵(jian)。為(wei)了(le)確保(bao)(bao)精(jing)(jing)度(du)，所有NTEGRA 系(xi)列產品(pin)(pin)都特別(bie)的(de)(de)設計了(le)內置、閉環的(de)(de)電(dian)容傳(chuan)感器。即(ji)使當(dang)掃(sao)(sao)描區(qu)域小到50×50nm，因(yin)其(qi)超低的(de)(de)噪音水平（典型值小于0.1nm）仍然能在(zai)使用(yong)內置傳(chuan)感器的(de)(de)情況下對樣品(pin)(pin)表(biao)面進行(xing)成像和(he)(he)修飾。可(ke)靠的(de)(de)掃(sao)(sao)描反饋(kui)確保(bao)(bao)可(ke)高精(jing)(jing)度(du)的(de)(de)定(ding)量(liang)(liang)測量(liang)(liang)針(zhen)尖和(he)(he)樣品(pin)(pin)表(biao)面間的(de)(de)相互作用(yong)力。

對(dui)于NTEGRA而言，NTEGRA Prima 僅僅只是(shi)一(yi)個基礎、核心，它(ta)所創(chuang)建(jian)的(de)(de)納米(mi)實(shi)驗室設計(ji)了*開放的(de)(de)硬件、軟件和(he)信號(hao)集(ji)成(cheng)(cheng)的(de)(de)結(jie)構，為與其它(ta)儀(yi)(yi)器集(ji)成(cheng)(cheng)提供了接(jie)口和(he)平臺。它(ta)可以(yi)和(he)高級光譜儀(yi)(yi)、超(chao)薄切片機(ji)、大規模篩(shai)選（high-throughput screening）以(yi)及加(jia)熱附件等結(jie)合，形成(cheng)(cheng)新一(yi)代的(de)(de)集(ji)成(cheng)(cheng)分析儀(yi)(yi)器。無(wu)論你需要的(de)(de)是(shi)簡單的(de)(de)還是(shi)更加(jia)的(de)(de)完善和(he)復(fu)雜的(de)(de)SPM，NTEGRA Prima都能提供良好的(de)(de)平臺，保證你成(cheng)(cheng)功的(de)(de)成(cheng)(cheng)像和(he)測量。

俄羅斯產全功能掃描探針原子力顯微鏡特色介紹

裝有一個(ge)帶集成電(dian)容傳感器的(de)可(ke)更換掃描器，可(ke)獲得的(de)掃描范圍：100x100x12 µm

 雙掃(sao)(sao)描(miao)模式（DualScan）是NT-MDT*的技術，它(ta)采用一(yi)個可(ke)更換(huan)的底部掃(sao)(sao)描(miao)器（100x100x12µm）和一(yi)個頂部掃(sao)(sao)描(miao)器（100x100x10μm），使總的掃(sao)(sao)描(miao)范圍達到(dao)：200x200x22μm；

 XY非(fei)線性：校正后，峰(feng)峰(feng)值0.05%，在整個掃(sao)描范圍內，X-Y平面的定位精度保(bao)持在10-20納米內；

 NTEGRA的控制器和機械部(bu)件可以(yi)在高達5 MHz的高頻下工(gong)作，因此儀器可以(yi)使用高共振頻率的懸臂，從(cong)而得到更加*的圖(tu)像；同樣(yang)這使得原(yuan)子(zi)力聲學顯微(wei)鏡（AFAM）的應用成為可能。該系(xi)統可以(yi)用于研(yan)究高電(dian)阻材料，例如半導體上(shang)的薄(bo)膜絕(jue)緣層、DLC和壓電(dian)薄(bo)膜、導電(dian)聚合物等(deng)。

低熱(re)漂移和熱(re)穩定性（特殊材料(liao)：鈦）

友好的(de)操作軟件(jian)和(he)強大的(de)腳(jiao)本語言控(kong)制——NT-MDT*

光學垂直方向分辨(bian)可達0.4um （使用(yong)高數值孔徑的頭(tou)部）, 可倒置觀察樣(yang)品——NT-MDT*

整體(ti)(ti)(ti)設計的液體(ti)(ti)(ti)池，可(ke)選(xuan)配加熱裝置和超小(xiao)液體(ti)(ti)(ti)池（200微升）

納米刻蝕操作軟件

整體設計(ji)的防(fang)磁、防(fang)電(dian)、防(fang)聲屏蔽罩

低真空操作環境可選

內置濕度(du)(du)、溫度(du)(du)傳感器，LCD液晶(jing)顯示

通氣孔(kong)設(she)計可提供氣體控制(zhi)

對樣品尺寸無限制

3．應用介紹

生物學和生物技術
蛋白質、 DNA、病毒、細菌、組織等
材料科學
表面形貌形態、壓電性質、粘滯力分析、摩擦特性分析等
磁材料
磁疇結構成像、觀察因外部磁場引起的磁性的反轉、不同溫度下的磁結構變化等
半導體和電學性質測量
硅片等材料的表面形貌、表面電勢和電容測量、表面電荷分布圖、摻雜濃度分析、失效分析（局域導電性和絕緣層漏電流）
聚合物和有機薄膜
球狀或柱狀晶體、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒、LB 膜、有機薄膜等
數據存儲
CD, DVD 盤
納米材料
納米粉體、納米復合材料、納米多孔材料、
納米結構材料
   富勒烯、碳納米(mi)管(guan)、納米(mi)絲、納米(mi)膠囊

納米電子學
量子點、納米線、量子結構
納米機械學
AFM 納米刻蝕：力（直流電和交流電）、電流（局部陽極氧化）、STM 納米刻蝕
納米操縱
接觸力
 
1.      NTEGRA-Prima

NT-MDT*的雙掃(sao)描(miao)模式（DualScan）使總(zong)的掃(sao)描(miao)范圍達到：200x200x22μm，對(dui)樣品尺寸(cun)幾乎無限制

這套系統可以用于(yu)研究高電阻的材(cai)料，例如在(zai)半導體基體上的絕緣(yuan)薄膜，DLC和(he)壓電薄膜，導電聚合物等(deng)

This system can be used in research of high-resistance materials such as thin dielectric layers on semiconductors, DLC and piezo-films, conductive polymers etc.

2.      NTEGRA-Aura

NTEGRA Aura allows measurements in low vacuum environment,

Additional possibilities are provided by a temperature table with sample heating up to 300 oC degree Celsius and the accuracy of temperature maintenance 0.05 oC.
Measurements in a controlled gas atmosphere are possible as well.

3.      NTEGRA-Vita

可(ke)(ke)選用不同的(de)(de)液體(ti)(ti)槽(cao)：密封的(de)(de)化學穩(wen)定的(de)(de)液體(ti)(ti)槽(cao)，可(ke)(ke)以進行(xing)升溫控制；用于在培養皿中(zhong)進行(xing)操作(zuo)的(de)(de)封閉式液體(ti)(ti)槽(cao)；可(ke)(ke)更換的(de)(de)加熱器。

Different liquid cells are available: hermetic chemically stable liquid flow cell with a possibility of the temperature control at elevated temperatures; closed liquid flow temperature controlled cell for operating with Petri dishes; replaceable heater

4.      NTEGRA-Maximus

NTEGRA Maximus 基座(zuo)是一個帶有傳動平臺(tai)的(de)可(ke)更換的(de)*部(bu)件。樣品在(zai)50mm內可(ke)在(zai)XY方(fang)向上自(zi)由移(yi)動，且可(ke)以進(jin)行0-360度旋(xuan)轉(zhuan)。

NTEGRA Maximus basement is a changeable center unit with a motorized stage. Sample movement is possible within 50mm by X,Y and within 0-360 degrees under rotation

許多小(xiao)樣品也可以在 NTEGRA Maximus上進行自(zi)動測量(liang)，且提供高質量(liang)的(de)成像(xiang)效果。

Automated measurements of many small samples are also possible with NTEGRA Maximus enabling high throughput screening.

5.      NTEGRA-Solaris

集成(cheng)到*基座上(shang)的(de)(de)倒置式顯微鏡使系(xi)統具有高的(de)(de)剛(gang)性(xing)，保證了系(xi)統的(de)(de)穩定性(xing)，從(cong)而(er)不(bu)僅可以獲(huo)得(de)高質(zhi)量的(de)(de)成(cheng)像效果，且可進行長時間(jian)的(de)(de)研(yan)究。

The integrating of the inverted microscope objective into the central base because of high mechanical rigidity provides stability of the system making quality images and long-term experiments possible

6.      NTEGRA-Spectra

通(tong)用的PNL平臺為將掃(sao)描共聚焦顯微(wei)鏡、常(chang)規的AFM和(he)分光鏡聯用提供(gong)了可(ke)能性，從(cong)而(er)可(ke)以探(tan)測(ce)拉曼散(san)射光譜，進而(er)可(ke)以得到(dao)很多與樣品化(hua)學組成(cheng)有(you)關的復雜(za)信息。

The universal PNL platform provides the possibility to integrate scanning confocal scheme in combination with regular AFM and spectrometer to detect Raman scattering spectrum. This spectra may then be interpreted into complex information concerning chemical composition of the object.

7.      NTEGRA-Therma

的(de)熱學頭部可提(ti)供(gong)非常(chang)低的(de)熱漂移（小(xiao)于10 nm/°C），保(bao)證(zheng)了針尖-樣品系統的(de)穩(wen)定性。這(zhe)樣可以對(dui)樣品表面(mian)選定的(de)點進行(xing)長時間的(de)研究。

Special Thermo head provides extremely low thermal drift （less than 10 nm/癈） ensuring high stability of the tip-sample system. This allows long-term measurements to be done in pre-defined point on the specimen surface.

8.      NTEGRA-Tomo

超薄切片機可以制備用于原子力顯微鏡研究的納米片層和新鮮表面。因此，可以研究表面的物理性質和重構后的3維圖像
經過NTEGRA Tomo處(chu)理后的片(pian)狀樣品可以(yi)用(yong)于透射電(dian)鏡分析。

Ultramicrotome makes nanoslices of a sample and a freshly cut surface is then measured by AFM. Thus, many physical properties of a surface are studied and 3D-volume imaging is available after the reconstruction.
After the NTEGRA Tomo operation sample slices stay available for TEM analysis