為(wei)了滿足現代材料研究的挑戰,Swift開發了一系列*可定(ding)制的原(yuan)(yuan)位拉伸試樣(yang)(yang)臺。這些拉伸試樣(yang)(yang)臺適合(he)多種顯微(wei)(wei)(wei)觀測系統,比如掃描電鏡(jing)、透射(she)電鏡(jing)、光(guang)學顯微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)、共聚焦(jiao)顯微(wei)(wei)(wei)鏡(jing)等。支持EBSD,樣(yang)(yang)品加熱和(he)冷卻,可實(shi)現原(yuan)(yuan)位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單(dan)軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲(pi)勞力(li)(li)學測試等多重測試模式,實(shi)現原(yuan)(yuan)位復合(he)載荷測試薄膜(mo)及細(xi)絲力(li)(li)學實(shi)驗。