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原位拉伸臺

簡(jian)要描述:為了滿足(zu)現(xian)代(dai)材(cai)料(liao)研究的挑戰,Swift開發了一系列*可定(ding)制的原位(wei)拉(la)(la)(la)伸(shen)(shen)試(shi)樣(yang)臺(tai)。這些(xie)拉(la)(la)(la)伸(shen)(shen)試(shi)樣(yang)臺(tai)適(shi)合(he)多種顯(xian)微(wei)觀測系統,比(bi)如掃(sao)描(miao)電鏡、透射(she)電鏡、光學(xue)顯(xian)微(wei)鏡、共聚(ju)焦顯(xian)微(wei)鏡等。支(zhi)持EBSD,樣(yang)品加(jia)熱(re)和(he)冷卻,可實現(xian)原位(wei)“拉(la)(la)(la)伸(shen)(shen)—剪(jian)(jian)切"、“壓縮(suo)—剪(jian)(jian)切"、“單(dan)軸拉(la)(la)(la)伸(shen)(shen)/壓縮(suo)"、“純剪(jian)(jian)切"及疲勞(lao)力(li)學(xue)測試(shi)等多重測試(shi)模式,實現(xian)原位(wei)復合(he)載荷測試(shi)薄膜及細絲(si)力(li)學(xue)實驗。

  • 產品型號:
  • 廠商(shang)性(xing)質:代理商
  • 更新時間:2022-04-16
  • 訪  問  量:1284
詳情介紹(shao)
品牌其他品牌價格區間面議
儀器種類其他應用領域化工,電子,航天,汽車,電氣


原位拉伸臺

Swift原(yuan)位(wei)拉伸試(shi)樣臺也可立使用(yong)測定材料力學參數(shu);同時由(you)于(yu)結構(gou)緊湊(cou)微(wei)小、充分考慮(lv)了真空兼(jian)容(rong)性(xing)和電磁兼(jian)容(rong)性(xing),因此(ci)可實(shi)現與(yu)金相顯(xian)微(wei)鏡(jing)、掃(sao)描電鏡(jing)、拉曼(man)光譜儀(yi)、X射(she)線(xian)衍射(she)儀(yi)、原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)等顯(xian)微(wei)成(cheng)像(xiang)設備的(de)(de)兼(jian)容(rong),所采(cai)用(yong)的(de)(de)超低速(su)準靜態加載方式有利于(yu)在成(cheng)像(xiang)儀(yi)器下(xia)對載荷作(zuo)用(yong)下(xia)材料細微(wei)的(de)(de)變(bian)形損(sun)傷變(bian)化(hua)狀況進(jin)行(xing)連(lian)續的(de)(de)可視化(hua)原(yuan)位(wei)監測,便于(yu)系統(tong)深入的(de)(de)研究(jiu)揭示(shi)載荷作(zuo)用(yong)、材料變(bian)形損(sun)傷機制(zhi)與(yu)微(wei)觀結構(gou)變(bian)化(hua)間的(de)(de)規律。


原位拉伸臺應用

Swift拉伸試驗臺是(shi)通(tong)用的,能夠在各種(zhong)材(cai)料(liao)(liao)(liao)上進行(xing)各種(zhong)機械測(ce)試。在靜(jing)態或(huo)動態條件下觀察材(cai)料(liao)(liao)(liao)表面納米級微(wei)(wei)觀形態和(he)結(jie)構(gou)變化。通(tong)過實時獲(huo)取的載荷,形變和(he)溫度等數(shu)據(ju),并結(jie)合掃描(miao)電子顯微(wei)(wei)鏡提(ti)供的材(cai)料(liao)(liao)(liao)微(wei)(wei)觀結(jie)構(gou)分析(xi)數(shu)據(ju),實現了(le)定(ding)量分析(xi)材(cai)料(liao)(liao)(liao)微(wei)(wei)觀力學性質,相變行(xing)為,取向變化,裂紋萌生和(he)擴(kuo)展,材(cai)料(liao)(liao)(liao)疲勞和(he)斷裂機制,材(cai)料(liao)(liao)(liao)彎曲(qu)機制,高溫蠕(ru)變性,分層(ceng),形成滑(hua)移(yi)面以及脫落等現象。

- 半(ban)導體器件(jian),薄膜(mo)

- 硬質涂層,電鍍層

- 金(jin)屬(shu)材(cai)料,陶(tao)瓷材(cai)料

- 玻璃,塊體材料

- 復合材料,聚合物材料

- 電鍍層,釬焊或焊接(jie)接(jie)頭

- 礦物,木材

- 有機(ji)材料等等



測試方法




拉伸試樣臺型號


Swift開發(fa)了一系列基礎拉伸試樣臺,可以實(shi)現*定制和增強(qiang),以適應任何(he)應用(yong)。


型號 A 傾斜臺




該模型設計了一(yi)個帶有旋轉和(he)傾斜工作臺,測試(shi)樣品可(ke)以在任(ren)意一(yi)個0°平角或70°EBSD角度。標準加載裝置大加載力5KN,可升級10kN測壓元件。樣品臺行程26mm。


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型號 B 試驗臺



型(xing)號(hao)B試驗臺具有較低的外形系數以適合受限的SEM室,并且可以在0°或70 °EBSD下測試樣品。負載范圍可達5kN。樣品臺行程可達26mm。



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型號 C 試驗臺



   C型微型拉伸臺(tai)(tai)是(shi)專門為小(xiao)型或臺(tai)(tai)式(shi)SEM開發的,并配置為在0°或70 °EBSD下測(ce)試(shi)樣品。負載范(fan)圍高達2kN。樣品臺(tai)(tai)行程(cheng)可達16mm。


             




控(kong)制(zhi)器和軟件


  Swift儀器的拉伸(shen)臺(tai)采用計(ji)算機(ji)控制的工作(zuo)流程(cheng)設計(ji),使操(cao)作(zuo)簡(jian)單高效。


控(kong)制器



Swift Instruments的控制器和(he)軟(ruan)件(jian)為拉伸臺和(he)其他選項提供了(le)一個計算(suan)機界(jie)面,并(bing)與運(yun)行Windows 10的臺式(shi)電(dian)腦、筆記本電(dian)腦和(he)平板電(dian)腦兼容。


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軟件


程序(xu)測試(shi)例程通過一(yi)個拖放界(jie)面,能夠控制力和(he)溫(wen)(wen)度(du)。記(ji)錄(lu)試(shi)驗荷載、位移和(he)溫(wen)(wen)度(du),自動計算應力和(he)應變。測試(shi)數據(ju)可以導出進行外部分(fen)析。


   






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