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高精度原子力顯微鏡
簡要(yao)描述(shu)：高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來納米級分辨率的數據，值得您信賴、使用和擁有。 在SmartScanAuto有的(de)智能模式(shi)下，系統自動(dong)執行所有必要的(de)成像(xiang)(xiang)操作，同時(shi)智能選(xuan)擇好的(de)圖像(xiang)(xiang)質量和(he)掃描(miao)速度。這是(shi)通過(guo)Park的(de)技術才得以實現(xian)的(de)。它不僅可以為您節(jie)省(sheng)時(shi)間和(he)金錢(qian)，還可以給您帶(dai)來優質的(de)研究結果。
產(chan)品型號：NX10 Park- 廠(chang)商性質：代理商
- 更新時間(jian)：2022-04-18
- 訪 問 量(liang)：1189
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,電子,綜合 |
高精度原子力顯微鏡介紹：
Park NX10是(shi)非接觸式(shi)原子力(li)顯(xian)微(wei)鏡(jing)，在(zai)延長(chang)探(tan)針(zhen)使(shi)用壽(shou)命的(de)(de)同時(shi)，還能良(liang)好(hao)地保護您的(de)(de)樣品(pin)不受損壞。可(ke)彎曲(qu)的(de)(de)立(li) XY 掃(sao)描儀和(he)Z掃(sao)描儀可(ke)帶來良(liang)好(hao)的(de)(de)分辨率。
Park 原子力顯(xian)微鏡具有(you)綜合性的(de)(de)掃(sao)描模式，因此(ci)您可以有(you)效地收集各種數據類型。從使用(yong)世界上的(de)(de)真非接觸模式用(yong)來保持(chi)探針的(de)(de)尖銳度和樣品的(de)(de)完整性，到先(xian)進的(de)(de)磁力顯(xian)微鏡， Park 在原子力顯(xian)微鏡領域為您提供創新模式.
高精度原子力顯微鏡產品特點：
1）Smartscan智能(neng)掃(sao)描(miao)模式，“1，2，3"點擊即可(ke)實現(xian)成像(xiang)
2）Pinpoint Nanomechanical力控(kong)出圖(tu)模式(shi)，更優(you)越(yue)的(de)力學形貌(mao)成像及(ji)各種電(dian)學測試
3）強大(da)的內置集成軟件(jian)系(xi)統，自帶(dai)LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件(jian)模式
基本技術特點：
a) 掃(sao)描(miao)范(fan)圍是(shi) 50μm x 50μm的 2D 掃(sao)描(miao)器，驅動 XY 軸樣品(pin)臺
b) 高速Z軸掃(sao)描器，掃(sao)描范圍(wei) 15μm
c) 低(di)噪聲(sheng)(sheng) XYZ 位置(zhi)傳(chuan)感器(qi)（低(di)噪聲(sheng)(sheng)XY閉(bi)環掃(sao)(sao)描可(ke)將正向(xiang)掃(sao)(sao)描和反向(xiang)掃(sao)(sao)描間(jian)隙降至(zhi)掃(sao)(sao)描范圍(wei)的 0.15% 以下）
d) 自(zi)動步進掃(sao)描，滑(hua)動嵌入 SLD 鏡頭的自(zi)主固定方式，
e) 垂(chui)直調節驅動 Z 平臺和聚焦平臺
選項/模式
標準成像 | 化學性能 | 介電/壓電性能 |
? 實際非接觸(chu)式 ? 接觸式(shi) ? 側(ce)向(xiang)摩(mo)擦力顯微技術（LFM） ? 相位模式(shi)，輕(qing)敲模式(shi) ? Pinpoint成像 | ? 功能化探針的化學力顯微鏡 ? 電化學顯微(wei)鏡(jing)(EC-STM和EC-AFM) | ? (EFM)靜電力顯微(wei)鏡 ? 動(dong)態接觸式(shi)電子顯微鏡（EFM-DC） ? （PFM）壓電力顯微鏡 ? 高電壓PFM |
力測量 | 磁性能 | 熱性能 |
? 力-距(ju)離（F-D）光(guang)譜 ? 力譜(pu)成(cheng)像 | ? 磁力顯微鏡 ? 可調(diao)AFM | ? 掃描(miao)熱顯(xian)微鏡(jing)（SThM） |
電性能 | 機械性能 | |
? Pinpoint 導電AFM（CP-AFM） ? I-V譜線 ? 掃描開爾文(wen)探針顯微鏡（KPFM） ? QuickStep掃描電(dian)容顯微(wei)鏡（SCM） ? 掃(sao)描電阻顯微鏡（SSRM） | ? 掃描隧道顯(xian)微(wei)鏡（STM） ? 掃(sao)描(miao)隧道光譜（STS） ? 光電(dian)流測繪（PCM） ? SICMcurrent-distance（I/d）Spectroscopy | ? Pinpoint模式(shi) ? 力調制顯微(wei)鏡（FMM） ? 壓痕，納米刻蝕(shi) ? 高壓納米刻蝕 ? 納(na)米操縱 |
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